半导体分立器件测试仪 |
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“半导体分立器件测试仪”参数说明
“半导体分立器件测试仪”详细介绍
BC3193半导体分立器件测试系统
系统用途 BC3193半导体分立器件测试系统是半导体参数测试的专用设备,用于半导体器件生产厂家进行圆片中测或封装成测,各类整机厂家、科研院所的质量检测部门进行入厂检验、可靠性分析测试 系统特点 ◆PC机为系统的主控机 ◆菜单式测试程序编辑软件操作简便 ◆预先连接测试自动识别NPN/PNP ◆0~±20V程控高压源 ◆高达±10A程控高流源 (外接高流台可扩充到±10A) ◆测试漏流最小分辨率达6.1pA ◆四线开尔文连接保证加载测量的准确 ◆通过IEEE488接口连接校准数字表传递国家计量标准对系统进行校验 ◆Prober接口、Handler接口可选(16Bin) ◆可为用户提供丰富的测试适配器 测试对象 二极管/稳压管/恒流二极管/整流桥/瞬态抑制管: ?BVR、IR、VF、VZ、RZ 三极管:BVCBO、BVCEO、BVCES、BVCER、BVEBO、HFE、ICBO、ICBS、ICEO、ICES、ICER、IEBO、VBEF、VBCF、VBESAT、VCESAT 可控硅: ?BVGKO、IAKF、IAKR、IGKO、IGT、 IH、IL、VGT、VON 场效应管: ?BVDSO、BVDSS、BVDSR、BVDGO、BVGDS、BVGSO、BVGSS、GFS、IDSO、IDSS、IDSR、IG、IGDO、IGSO、IGSS、RDS(on)、VDS(on)、VGS、VGS(th)、VP IGBT: ?BVCES、BVCGR、BVGES、ICES、IGES、VCESAT、VGETH、VGS(off) 达林顿矩阵:ICEX、IIN(ON)、IIN(Off)、VIN(on)、IR、VCESAT、BVR、HFE、ICEO 单结晶体管:Iv、VV、IP、VP、VEB1、ETA、RBB、IEB1O、IB2 光敏二、三极管:ID、IL、VOC、ISC、BV、BVCE 光耦(输出类型:二极管、三极管、可控硅、MOSFET): ?CTR、BVECO、BVCBO、BVCEO、ICBO、ICEO、HFE、VBESAT、VCESAT、IR、IAKF、IAKR(加时间测量选件Tr、TF、Toff、Ton) 固态继电器:IFoff、IFon、IR、Ioff、Ion、RON、VF、VR、Von 硬件基本配置 主控计算机一台:Windows操作系统、PCI插槽1个以上; 计算机PCI接口板(CPUINT)一块;系统接口板(SYSINT)一块(含GPIB接口); 数据采集板(VM)一块; 40A/30V程控电流电压源(VIS)二块; ±20V程控电压源(HVS)一块; 电流/电压转换板(IVC)一块; 电源控制板(PWC)一块; 测试台矩阵板(STATION)一块; 自检模板2个; 测试适配器4个(二极管、TO-92、TO-3、TO-20) |
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