三极管开关时间参数测试仪
“三极管开关时间参数测试仪”参数说明
| 型号： | BC3193 | 规格： | Bc3193 |
| 商标： | 励芯泰思特 | 包装： | 仪器专用包装 |
| 产量： | 1000台/年 |
“三极管开关时间参数测试仪”详细介绍
BC3193TM 分立器件时间参数测试系统
系统用途
BC3193TM 分立器件时间参数测试系统用于半导体二极管、三极管、MOS管、光耦等器件的开关时间参数测试。可用于各类整机厂家、科研院所的质量检测部门进行入厂检验、可靠性分析。
系统特点
◆PC机为系统的主控机
◆菜单式测试程序编辑软件操作简便
◆正负脉冲激励源
◆美国Lecroy 400M存储示波器用于时间测量，最小时间测量分辨率200PS
◆通过IEEE488接口连接校准数字表传递国家计量标准对系统进行校验
◆系统终身技术支持
测试参数
开启时间Ton；关断时间Toff；延迟时间Td；存储时间Ts；上升时间Tr；下降时间TF等参数。
脉冲发生器
脉冲幅度：±5Vpp～±20Vpp（可编程）
脉冲边沿：≤5nS（由0到正或负）
脉冲宽度：1μS～1mS（可编程）
占 空 比：0.1%～10% （可编程）
时间测量（同示波器指标）
最高频率：400MHz
触发灵敏度：2mV/div
最小时间测量分辨率：200PS
测试系统硬件基本配置
联想计算机一台：Windows操作系统、PCI插槽1个以上；
计算机接口板（CPUINT）一块；
系统接口板（SYSINT）一块含GPIB接口；
数据采集板（VM）一块：16位ADC，16X256 RAM；
30V/20A程控电压/电流源（VIS）一块；
30V/2A程控电压/电流源（VIS）一块；
脉冲发生器电压源一块；
高速可编程脉冲发生器一块；
美国Lecroy 400M存贮示波器一台；
电源控制板（PWC）一块；
自检模板一个；
测试适配器：根据用户需要配置
系统用途
BC3193TM 分立器件时间参数测试系统用于半导体二极管、三极管、MOS管、光耦等器件的开关时间参数测试。可用于各类整机厂家、科研院所的质量检测部门进行入厂检验、可靠性分析。
系统特点
◆PC机为系统的主控机
◆菜单式测试程序编辑软件操作简便
◆正负脉冲激励源
◆美国Lecroy 400M存储示波器用于时间测量，最小时间测量分辨率200PS
◆通过IEEE488接口连接校准数字表传递国家计量标准对系统进行校验
◆系统终身技术支持
测试参数
开启时间Ton；关断时间Toff；延迟时间Td；存储时间Ts；上升时间Tr；下降时间TF等参数。
脉冲发生器
脉冲幅度：±5Vpp～±20Vpp（可编程）
脉冲边沿：≤5nS（由0到正或负）
脉冲宽度：1μS～1mS（可编程）
占 空 比：0.1%～10% （可编程）
时间测量（同示波器指标）
最高频率：400MHz
触发灵敏度：2mV/div
最小时间测量分辨率：200PS
测试系统硬件基本配置
联想计算机一台：Windows操作系统、PCI插槽1个以上；
计算机接口板（CPUINT）一块；
系统接口板（SYSINT）一块含GPIB接口；
数据采集板（VM）一块：16位ADC，16X256 RAM；
30V/20A程控电压/电流源（VIS）一块；
30V/2A程控电压/电流源（VIS）一块；
脉冲发生器电压源一块；
高速可编程脉冲发生器一块；
美国Lecroy 400M存贮示波器一台；
电源控制板（PWC）一块；
自检模板一个；
测试适配器：根据用户需要配置
编辑：杭州励芯泰思特测试有限公司 时间：2018/05/11
上一条：光耦开关时间参数测试仪
下一条：时间继电器测试仪