“半导体分立器件测试仪”参数说明
型号: |
BC3193 |
规格: |
Bc3193 |
商标: |
励芯泰思特 |
包装: |
仪器专用包装 |
产量: |
1000台/年 |
“半导体分立器件测试仪”详细介绍
BC3193半导体分立器件测试系统
系统用途
BC3193半导体分立器件测试系统是半导体参数测试的专用设备,用于半导体器件生产厂家进行圆片中测或封装成测,各类整机厂家、科研院所的质量检测部门进行入厂检验、可靠性分析测试
系统特点
◆PC机为系统的主控机
◆菜单式测试程序编辑软件操作简便
◆预先连接测试自动识别NPN/PNP
◆0~±20V程控高压源
◆高达±10A程控高流源
(外接高流台可扩充到±10A)
◆测试漏流最小分辨率达6.1pA
◆四线开尔文连接保证加载测量的准确
◆通过IEEE488接口连接校准数字表传递国家计量标准对系统进行校验
◆Prober接口、Handler接口可选(16Bin)
◆可为用户提供丰富的测试适配器
测试对象
二极管/稳压管/恒流二极管/整流桥/瞬态抑制管: ?BVR、IR、VF、VZ、RZ
三极管:BVCBO、BVCEO、BVCES、BVCER、BVEBO、HFE、ICBO、ICBS、ICEO、ICES、ICER、IEBO、VBEF、VBCF、VBESAT、VCESAT
可控硅: ?BVGKO、IAKF、IAKR、IGKO、IGT、
IH、IL、VGT、VON
场效应管: ?BVDSO、BVDSS、BVDSR、BVDGO、BVGDS、BVGSO、BVGSS、GFS、IDSO、IDSS、IDSR、IG、IGDO、IGSO、IGSS、RDS(on)、VDS(on)、VGS、VGS(th)、VP
IGBT: ?BVCES、BVCGR、BVGES、ICES、IGES、VCESAT、VGETH、VGS(off)
达林顿矩阵:ICEX、IIN(ON)、IIN(Off)、VIN(on)、IR、VCESAT、BVR、HFE、ICEO
单结晶体管:Iv、VV、IP、VP、VEB1、ETA、RBB、IEB1O、IB2
光敏二、三极管:ID、IL、VOC、ISC、BV、BVCE
光耦(输出类型:二极管、三极管、可控硅、MOSFET): ?CTR、BVECO、BVCBO、BVCEO、ICBO、ICEO、HFE、VBESAT、VCESAT、IR、IAKF、IAKR(加时间测量选件Tr、TF、Toff、Ton)
固态继电器:IFoff、IFon、IR、Ioff、Ion、RON、VF、VR、Von
硬件基本配置
主控计算机一台:Windows操作系统、PCI插槽1个以上;
计算机PCI接口板(CPUINT)一块;系统接口板(SYSINT)一块(含GPIB接口);
数据采集板(VM)一块;
40A/30V程控电流电压源(VIS)二块;
±20V程控电压源(HVS)一块;
电流/电压转换板(IVC)一块;
电源控制板(PWC)一块;
测试台矩阵板(STATION)一块;
自检模板2个;
测试适配器4个(二极管、TO-92、TO-3、TO-20)